查看最新文献
订阅
分享
643发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - 最新文献
Comprehensive Analysis of Hole-Trapping in SiN Films with a Wide Range of Time Constants Based on Dynamic C-V
Pub Date : 2023-03-01 DOI: 10.1109/IRPS48203.2023.10118083 Harumi Seki, R. Ichihara, Y. Higashi, Y. Nakasaki, M. Saitoh, Masamichi SuzukiHigh Temperature and High Humidity Reliability Evaluation of Large-Area 1200V and 1700V SiC Diodes
Pub Date : 2023-03-01 DOI: 10.1109/IRPS48203.2023.10118095 I. Ji, A. Mathew, Jae-Hyung Park, Neal Oldham, Matthew McCain, S. Sabri, E. Brunt, B. Hull, D. Lichtenwalner, D. Gajewski, J. PalmourPerforming Machine Learning Based Outlier Detection for Automotive Grade Products
Pub Date : 2023-03-01 DOI: 10.1109/IRPS48203.2023.10118207 Y. L. Yang, P. Tsao, C. W. Lin, Ross Lee, Olivia Ni, T. T. Chen, Y. Ting, C. Lai, Jason Yeh, Arnold Yang, Wayne Huang, Peng Chen, Charly Tsai, Ryan Yang, Y. S. Huang, B. Hsu, M. Z. Lee, T. Lee, Michael Huang, Coming Chen, L. Chu, H. Kao, N. S. Tsai
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
