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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems - 最新文献
Aging-Aware Standard Cell Library Optimization Methods
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.1007/978-3-030-26172-6_15 S. Tan, M. Tahoori, Taeyoung Kim, Shengcheng Wang, Zeyu Sun, S. KiamehrDynamic EM Models for Transient Stress Evolution and Recovery
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.1007/978-3-030-26172-6_5 S. Tan, M. Tahoori, Taeyoung Kim, Shengcheng Wang, Zeyu Sun, S. KiamehrFast EM Stress Evolution Analysis Using Krylov Subspace Method
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.1007/978-3-030-26172-6_3 S. Tan, M. Tahoori, Taeyoung Kim, Shengcheng Wang, Zeyu Sun, S. Kiamehr
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