查看最新文献
订阅
分享
35发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
2002 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium - 最新文献
Harnessing the base-pushout effect for ESD protection in bipolar and BiCMOS technologies
Pub Date : 2002-10-01 DOI: 10.1016/S0026-2714(03)00126-4 M. Streibl, K. Esmark, A. Sieck, W. Stadler, M. Wendel, J. Szatkowski, H. Gosner
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
