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2020 IEEE 29th North Atlantic Test Workshop (NATW) - 最新文献
AI Powered THz VLSI Testing Technology
Pub Date : 2020-06-01 DOI: 10.1109/NATW49237.2020.9153077 Naznin Akter, M. Karabiyik, M. Shur, J. Suarez, N. PalaA Built In Test circuit for waveform classification at high frequencies
Pub Date : 2020-06-01 DOI: 10.1109/NATW49237.2020.9153078 K. Poulos, T. Haniotakis
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