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Scanning Microscopies - 最新文献
Complementing and adding to SEM performance with the addition of XRF, Raman, CL and PL spectroscopy and imaging
Pub Date : 2010-06-10 DOI: 10.1117/12.864236 E. Leroy, S. Mamedov, E. Teboul, A. Whitley, D. Meyer, L. CassonOptimal compression and binarization of signature profiles for automated bullet identification systems
Pub Date : 2010-06-03 DOI: 10.1117/12.859858 W. Chu, John Song, T. Vorburger, R. Thompson, T. Renegar, R. SilverMicrostructure of Desmanthus illinoensis
Pub Date : 2010-06-03 DOI: 10.1117/12.853464 D. Wood, W. Orts, G. Glenn
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