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2021 IEEE International Test Conference (ITC) - 最新文献
MINiature Interactive Offset Networks (MINIONs) for Wafer Map Classification
Pub Date : 2021-10-01 DOI: 10.1109/ITC50571.2021.00027 Y. Zeng, Li-C. Wang, Chuanhe Jay ShanAdaptive NN-based Root Cause Analysis in Volume Diagnosis for Yield Improvement
Pub Date : 2021-10-01 DOI: 10.1109/ITC50571.2021.00010 Xin Huang, Min Qin, Ruosheng Xu, Cheng Chen, Shangling Jui, Zhihao Ding, Pengyun Li, Yu HuangA Scalable Design Flow for Performance Monitors Using Functional Path Ring Oscillators
Pub Date : 2021-10-01 DOI: 10.1109/ITC50571.2021.00041 T. Kilian, H. Ahrens, Daniel Tille, M. Huch, Ulf Schlichtmann
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