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2017 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS) - 最新文献
Towards digital circuit approximation by exploiting fault simulation
Pub Date : 2017-09-29 DOI: 10.1109/EWDTS.2017.8110108 Marcello Traiola, A. Virazel, P. Girard, M. Barbareschi, A. BosioStochastic approach to reducing calibration errors of MEMS orientation sensors
Pub Date : 2017-09-01 DOI: 10.1109/EWDTS.2017.8110051 Kseniya I. Goryanina, A. LukyanovSPICE models of nonlinear capacitors for simulation of ferroelectric circuits
Pub Date : 2017-09-01 DOI: 10.1109/EWDTS.2017.8110102 M. Gourary, S. Rusakov, S. Ulyanov, M. Zharov, A. Rassadin
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