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2011 21st International Conference on Noise and Fluctuations - 最新文献
Low-frequency noise and stress-induced degradation in LDMOS
Pub Date : 2011-06-12 DOI: 10.1109/ICNF.2011.5994341 M. Mahmud, Z. Çelik-Butler, P. Hao, F. Hou, B. Amey, T. Khan, W. HuangLow-frequency noise in graphene field-effect transistors
Pub Date : 2011-06-12 DOI: 10.1109/ICNF.2011.5994311 S. Rumyantsev, Guanxiong Liu, W. Stillman, V. Kachorovskii, M. Shur, A. A. BalandinPoole frenkel currents and 1/f noise characteristics of high voltage MLCCs
Pub Date : 2011-06-12 DOI: 10.1109/ICNF.2011.5994364 M. Tacano, H. Ohya, N. Tanuma, J. Sikula
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