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2012 IEEE International Conference on IC Design & Technology - 最新文献
A new statistical setup and hold time definition
Pub Date : 2012-07-09 DOI: 10.1109/ICICDT.2012.6232837 Xiaoliang Bai, P. Patel, Xiaonan ZhangA 0.32V, 55fJ per bit access energy, CMOS 65nm bit-interleaved SRAM with radiation Soft Error tolerance
Pub Date : 2012-07-09 DOI: 10.1109/ICICDT.2012.6232860 S. Clerc, F. Abouzeid, G. Gasiot, D. Gauthier, Dimitri Soussan, P. Roche“Phase-Change Memories for nano-scale technology and design”
Pub Date : 2012-07-09 DOI: 10.1109/ICICDT.2012.6232857 F. Pellizzer, R. Bez
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