IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence

SCI期刊
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence
期刊缩写:
IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell.
影响因子:
20.8
ISSN:
print: 0162-8828
研究领域:
工程技术-工程:电子与电气
h-index:
326
自引率:
3.00%
Gold OA文章占比:
9.87%
原创研究文献占比:
99.41%
SCI收录类型:
Science Citation Index Expanded (SCIE) || Scopus (CiteScore)
期刊介绍英文:
The IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence publishes articles on all traditional areas of computer vision and image understanding, all traditional areas of pattern analysis and recognition, and selected areas of machine intelligence, with a particular emphasis on machine learning for pattern analysis. Areas such as techniques for visual search, document and handwriting analysis, medical image analysis, video and image sequence analysis, content-based retrieval of image and video, face and gesture recognition and relevant specialized hardware and/or software architectures are also covered.
期刊介绍中文:
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence 发表有关计算机视觉和图像理解的所有传统领域、模式分析和识别的所有传统领域以及机器智能的选定领域的文章,特别强调用于模式分析的机器学习。还涵盖了视觉搜索、文档和笔迹分析、医学图像分析、视频和图像序列分析、基于内容的图像和视频检索、面部和手势识别以及相关的专用硬件或软件架构等技术领域。
CiteScore:
CiteScoreSJRSNIPCiteScore排名
28.46.1586.470
学科
排名
百分位
大类:Mathematics
小类:Applied Mathematics
1 / 635
99%
大类:Computer Science
小类:Computational Theory and Mathematics
1 / 176
99%
大类:Computer Science
小类:Software
7 / 407
98%
大类:Computer Science
小类:Artificial Intelligence
8 / 350
97%
大类:Computer Science
小类:Computer Vision and Pattern Recognition
6 / 106
94%
发文信息
中科院SCI期刊分区
大类 小类 TOP期刊 综述期刊
1区 计算机科学
1区 计算机:人工智能 COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE
1区 工程:电子与电气 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
WOS期刊分区
学科分类
Q1COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE
Q1ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
历年影响因子
2015年6.0770
2016年8.3290
2017年9.4550
2018年17.7300
2019年17.8610
2020年16.3890
2021年24.3140
2022年23.6000
2023年20.8000
历年发表
2012年260
2013年290
2014年255
2015年250
2016年257
2017年275
2018年280
2019年311
2020年447
2021年765
2022年885
投稿信息
出版周期:
Monthly
出版语言:
English
出版国家(地区):
UNITED STATES
接受率:
62%
审稿时长:
8.5 months
出版商:
IEEE Computer Society
编辑部地址:
IEEE COMPUTER SOC, 10662 LOS VAQUEROS CIRCLE, PO BOX 3014, LOS ALAMITOS, USA, CA, 90720-1314

IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence - 最新文献

HOLI-1-to-3: Transient-Enhanced Holistic Image-to-3D Generation

Pub Date : 2024-09-18 DOI: 10.1109/tpami.2024.3463875 Siyuan Shen, Suan Xia, Xingyue Peng, Ziyu Wang, Yingsheng Zhu, Shiying Li, Jingyi Yu

T2TD: Text-3D Generation Model Based on Prior Knowledge Guidance

Pub Date : 2024-09-18 DOI: 10.1109/tpami.2024.3463753 Weizhi Nie, Ruidong Chen, Weijie Wang, Bruno Lepri, Nicu Sebe

GhostingNet: A Novel Approach for Glass Surface Detection With Ghosting Cues

Pub Date : 2024-09-18 DOI: 10.1109/tpami.2024.3463490 Tao Yan, Jiahui Gao, Ke Xu, Xiangjie Zhu, Hao Huang, Helong Li, Benjamin Wah, Rynson W.H. Lau
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