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Modeling Aspects in Optical Metrology IX - 最新文献
Optical measurements and numerical simulations of the Mueller matrix at silicon nanowire structures
Pub Date : 2023-08-23 DOI: 10.1117/12.2673770 J. Grundmann, T. Käseberg, B. BodermannAdvanced in situ metrology for large aperture flat mirrors
Pub Date : 2023-08-23 DOI: 10.1117/12.2673949 E. Qi, Hai Hu, Xiao Luo, Zhenyu LiuRealization of subsampling schemes for compressive nano-FTIR imaging
Pub Date : 2023-08-23 DOI: 10.1117/12.2672558 D. Siebenkotten, M. Marschall, G. Wübbeler, A. Hoehl, E. Rühl, C. Elster, B. Kästner
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