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2018 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) - 最新文献
Good Die Prediction Modelling from Limited Test Items
Pub Date : 2018-08-01 DOI: 10.1109/ITC-ASIA.2018.00030 Takeru Nishimi, Yasuo Sato, S. Kajihara, Yoshiyuki NakamuraError Indication Signal Collapsing for Implication-Based Concurrent Error Detection
Pub Date : 2018-08-01 DOI: 10.1109/ITC-ASIA.2018.00032 Chih-Hao Wang, Chi-Hsuan Ho, Tong-Yu HsiehCost-Effective High Purity Signal Generator Using Pre-distortion
Pub Date : 2018-08-01 DOI: 10.1109/ITC-ASIA.2018.00028 Yuming Zhuang, Degang Chen
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