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ESSDERC '96: Proceedings of the 26th European Solid State Device Research Conference - 最新文献
Superimposed Bragg Gratings on Semiconductor Material
Pub Date : 1996-09-01 DOI: 10.1049/EL:19961269 A. Talneau, J. Charil, A. OugazzadenEffect of Nitride Sidewall Spacer on Hot Carrier Reliability Characteristics of MOSFET's
Pub Date : 1996-09-01 DOI: 10.7567/SSDM.1996.PC-4-6 H. Hwang, Dong-Hoon Lee, J. HwangSingle-Beam and Single-Mode Emission from Surface Emitting Laser Diodes based on Surface Mode Emission
Pub Date : 1996-09-01 DOI: 10.1109/LEOS.1996.565157 A. Kock, A. Golshani, R. Hainberger, E. Gornik, L. Korte
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