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Proceedings. 16th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.98TB100231) - 最新文献
Hierarchical statistical inference model for specification based testing of analog circuits
Pub Date : 1998-04-26 DOI: 10.1109/VTEST.1998.670862 Heebyung Yoon, P. Variyam, A. Chatterjee, N. NagiUsing verification technology for validation coverage analysis and test generation
Pub Date : 1998-04-26 DOI: 10.1109/VTEST.1998.670877 Dinos Moundanos, J. AbrahamHierarchical test access architecture for embedded cores in an integrated circuit
Pub Date : 1998-04-26 DOI: 10.1109/VTEST.1998.670842 D. Bhattacharya
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