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International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) - 最新文献
Diagnosis of small delay defects arising due to manufacturing imperfections using path delay measurements
Pub Date : 2013-03-04 DOI: 10.1109/ISQED.2013.6523655 Ahish Mysore Somashekar, S. TragoudasStochastic behavioral modeling of analog/mixed-signal circuits by maximizing entropy
Pub Date : 2013-03-04 DOI: 10.1109/ISQED.2013.6523668 R. Krishnan, Wei Wu, Fang Gong, Lei HeA cost-effective 45nm 6T-SRAM reducing 50mV Vmin and 53% standby leakage with multi-Vt asymmetric halo MOS and write assist circuitry
Pub Date : 2013-03-04 DOI: 10.1109/ISQED.2013.6523648 K. Nii, M. Yabuuchi, H. Fujiwara, Y. Tsukamoto, Y. Ishii, T. Matsumura, Y. Matsuda
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