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2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS) - 最新文献
WeSPer: A flexible small delay defect quality metric
Pub Date : 2016-04-25 DOI: 10.1109/VTS.2016.7477266 Omar Al-Terkawi Hasib, Y. Savaria, C. ThibeaultTest implications and challenges in near threshold computing special session
Pub Date : 2016-04-25 DOI: 10.1109/VTS.2016.7477295 M. Tahoori, R. Aitken, S. Vangal, Bal SandhuSecurity primitives (PUF and TRNG) with STT-MRAM
Pub Date : 2016-04-25 DOI: 10.1109/VTS.2016.7477292 E. Vatajelu, G. D. Natale, P. Prinetto
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