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Proposed for presentation at the MS&T 2020 held November 2-6, 2020 in virtual. - 最新文献
Exploring Extreme Environments via In-situ Electron Microscopy.
Pub Date : 2020-11-01 DOI: 10.2172/1830990 K. HattarDeep Convolutional Neural Networks as a Rapid Screening Tool for Complex Additively Manufactured Structures.
Pub Date : 2020-10-01 DOI: 10.2172/1829260 Brad L. Boyce, Anthony P. Garland, Benjamin White, B. Jared, M. Heiden, Emily A. Donahue
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