2005 IEEE International SOI Conference Proceedings

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2005 IEEE International SOI Conference Proceedings - 最新文献

The effect of integration of strontium-bismuth-tantalate capacitors onto SOI wafers

Pub Date : 2006-07-24 DOI: 10.1109/AERO.2006.1655955 V. Joshi, M. Ohno, J. Ida, Y. Nagatomo, K. Strauss

Parasitic source/drain resistance reduction in n-channel SOI MuGFETs with 15nm wide fins

Pub Date : 2005-12-27 DOI: 10.1109/SOI.2005.1563597 A. Dixit, K. Anil, N. Collaert, R. Rooyackers, F. Leys, I. Ferain, A. De Keersgieter, T. Hoffmann, R. Loo, M. Goodwin, P. Zimmerman, M. Caymax, K. De Meyer, M. Jurczak, S. Biesemans

Fin thickness asymmetry effects in multiple-gate SOI FETs (MuGFETs)

Pub Date : 2005-12-27 DOI: 10.1109/SOI.2005.1563571 T. Schulz, W. Xiong, C. Cleavelin, K. Schruefer, M. Gostkowski, K. Matthews, G. Gebara, R. J. Zaman, P. Patruno, A. Chaudhry, A. Woo, J. Colinge

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