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IWSM. 1998 3rd International Workshop on Statistical Metrology (Cat. No.98EX113) - 最新文献
Constraint transformation for IC physical design
Pub Date : 1998-06-07 DOI: 10.1109/IWSTM.1998.729767 E. Malavasi, E. CharbonEfficient yield estimation within automated analog IC design
Pub Date : 1998-06-07 DOI: 10.1109/IWSTM.1998.729788 G. Gielen, G. Debyser, F. Leyn, W. SansenPredictive tolerance and sensitivity analysis based on parametric response surface methodology
Pub Date : 1998-06-07 DOI: 10.1109/IWSTM.1998.729784 M. Quarantelli, L. Daldoss, P. Gubian, C. Guardiani
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