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2022 IEEE 31st Asian Test Symposium (ATS) - 最新文献
Enhanced Interconnect Test Method for Resistive Open Defects in Final Tests with Relaxation Oscillators
Pub Date : 2022-11-01 DOI: 10.1109/ATS56056.2022.00021 Masao Ohmatsu, Yuto Ohtera, Yuki Ikiri, H. Yotsuyanagi, Shyue-Kung Lu, M. HashizumeTwo-Dimensional Test Generation Objective
Pub Date : 2022-11-01 DOI: 10.1109/ATS56056.2022.00031 I. PomeranzPointerChecker: Tag-Based and Hardware-Assisted Memory Safety against Memory Corruption
Pub Date : 2022-11-01 DOI: 10.1109/ATS56056.2022.00029 Xiaofan Nie, Liwei Chen, Gang Shi
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