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Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium - 最新文献
Linear finite state machine for lD ILAs
Pub Date : 1994-04-25 DOI: 10.1109/VTEST.1994.292293 M. Gala, P. Utama, D. Ross, K. WatsonImpact of behavioral modifications for testability
Pub Date : 1994-04-25 DOI: 10.1109/VTEST.1994.292278 T. Thomas, P. Vishakantaiah, J. AbrahamOn compacting test sets by addition and removal of test vectors
Pub Date : 1994-04-25 DOI: 10.1109/VTEST.1994.292312 S. Kajihara, I. Pomeranz, K. Kinoshita, S. Reddy
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