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2015
ISSN：
on-line: 2768-1866
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IEEE Transactions on Signal and Power Integrity - 最新文献
Extraction of DKglass and DKresin for PCB Striplines and Analysis of Far-End Crosstalk
Pub Date : 2025-06-26 DOI: 10.1109/TSIPI.2025.3583657 Junyong Park;Yuandong Guo;Xiaoning Ye;DongHyun KimA Hybrid Boundary Element and Analytical Method (BEAM) for Efficient Capacitance Extraction in Multilayer Dielectrics
Pub Date : 2025-06-17 DOI: 10.1109/TSIPI.2025.3580490 Jie Li;Min Tang;Junfa MaoAn Efficient Fixture Removal Embedded Modeling Method Based on TDR and CNN Technique
Pub Date : 2025-04-15 DOI: 10.1109/TSIPI.2025.3560949 Si-Yao Tang;Xing-Chang Wei;Richard Xian-Ke Gao
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