研究前沿：易煦，光子芯片-损耗与增益 | Nature Photonics

背景：损耗与增益是光子集成电路（PICs）的核心基础参数，直接影响光通信、量子光子学等领域的系统性能，但现有工具难以对集成电路内部进行无损、精准的表征。研究目的：为解决这一问题，研究团队提出了一种通用方法，旨在无损地观察光子集成电路内部并在元件级别测量损耗与增益。结论：该方法利用非线性光学器件作为光功率鉴别器，实现了优于0.1分贝的测量精度，成功表征了耦合面损耗和未知器件损耗，并测量了量子光子芯片的片上量子效率。该方法具有通用性，有助于优化光子电路设计和构建大规模可靠系统。