西安电子科大李汝江/西安交大陶慧斌iScience：在电路晶格中观测到第二类和第三类狄拉克点

背景：狄拉克点是凝聚态物理中的重要概念，其中第二类和第三类狄拉克点因能带结构独特而备受关注，但其在传统材料中实现困难，对样品制备的精细度要求高。研究目的：为了克服传统体系的限制，本研究旨在利用易于构建和调控的电路晶格体系，实验观测第二类和第三类狄拉克点。结论：研究团队使用商用电路元件构建了具备镜像对称性的电路晶格，通过调节元件参数，成功在实验中观测到第二类狄拉克点（表现为高度倾斜的狄拉克锥）和第三类狄拉克点（表现为临界倾斜及平带结构）。该方法成本低廉、易于实现，为探索各向异性磁输运、拓扑相变等新颖量子现象提供了新的实验平台和重要参考。