Nano Measurer — TEM、SEM粒径测量、分布统计、作图超详细教程下载！

本文主要介绍了Nano Measurer软件在SEM/TEM电镜图片粒径测量和统计分析中的应用。背景方面，该软件作为比Image J和DigitalMicrograph更简便的工具，能够高效处理电镜图片中的颗粒大小、长度和孔径等尺寸数据，并自动绘制统计分布图。研究目的是提供详细的软件安装、使用教程以及结合Origin进行数据作图的步骤，帮助用户快速掌握粒径分析方法。结论指出，通过Nano Measurer的标尺设置、颗粒标记和报告生成功能，结合Origin的频率统计和正态分布拟合，用户可以准确获取粒径分布结果，并生成专业图表，从而提升科研效率。