东京大学通过光技术直接观测磁体的离散值，为开发由电子存储信息的量子器件开辟道路

背景：在物理学中，噪声通常被视为干扰，但散粒噪声等特定噪声可能携带关键信息，例如反映磁体磁化强度的量子化特性。磁化强度作为表示磁体方向和强度的物理量，具有离散的非连续值，但直接观测其散粒噪声因实验困难而未能实现。研究目的：东京大学研究团队旨在利用先进光测量技术，开发一种新方法，通过照射脉冲激光扰乱电子自旋并测量恢复过程中的磁化强度波动，以观测散粒噪声并确定量子化大小。结论：该方法成功实现了对磁化强度散粒噪声的测量，使单个电子自旋变化可被检测，为开发基于电子自旋操控的量子存储器件提供了重要基础，同时拓展了激光技术的应用潜力。