3小时TEM公开课下载：制样、SAED衍射斑点标定、DM测量晶格间距、ImageJ形貌分析

本课程由华算科技旗下测试云平台出品，针对TEM制样和数据分析两大主题进行详细讲解。课程内容包括六种制样方法（如常规制样、包埋切片、离子减薄、FIB等）的选择与应用，以及使用ImageJ、DigitalMicrograph、CrysTBox三大软件进行TEM图像分析、晶格条纹分析、晶体学取向关系分析等。通过案例分析指导制样方法和电镜型号的选择，旨在减少制样环节对样品成像质量的影响，获取高质量的分析表征结果。课程还提供回放视频、课件PPT及软件安装包等学习资料。