天津大学叶龙教授 Macromolecules：表征自支撑高分子光电薄膜力学性能的新方法

本文介绍了天津大学叶龙教授团队开发的一种名为FAST（Freestanding-film Assisted by Smart Transfer）的新方法，用于直接表征完全自支撑高分子光电薄膜的力学性能。该方法克服了传统依赖基底支撑的测试方法的局限性，能够更准确地反映薄膜在实际应用中的真实力学行为。研究以P3PT为模型体系，探讨了薄膜厚度、测试温度和样品尺寸对力学性能的影响，并通过掠入射X射线散射技术分析了分子取向与结晶结构的演变。此外，该方法还成功应用于多种共轭高分子材料体系，揭示了其力学性能的温度依赖性。FAST方法为理解高分子超薄膜的应变极限、破裂行为和应力-应变关系提供了新的研究手段，并为可拉伸电子材料的应用性能评估提供了依据。