如何表征催化活性位点？

本文系统阐述了X射线光谱（XPS/XAS）、原位谱学（ATR-SEIRAS/DEMS）及理论计算（ΔG*H火山图、eg填充度）在催化研究中的核心应用。背景方面，X射线技术自1895年发现以来，已发展出多种分析技术，为研究材料的晶体结构、电子结构、化学组成和表面特性提供了重要手段。研究目的是通过先进的分析表征技术深入解析活性中心的结构与性能之间的关系，指导催化剂的理性设计。结论部分指出，XPS和XAS等技术能够提供催化剂表面的电子结构和化学组成信息，而理论计算则通过活性描述符在催化剂的微观结构特征与宏观催化性能之间建立联系。