(纯计算)麻省理工学院Phys. Rev. B: 能隙与介电常数的普遍关系

本文介绍了麻省理工学院Liang Fu课题组在Phys. Rev. B上发表的研究论文，探讨了绝缘态中能隙与介电常数之间的普遍关系。研究背景在于绝缘态的能隙对其电学和光学性质具有根本重要性，但长期以来未受到足够关注。研究目的是建立所有绝缘态的能隙和静态介电常数之间的普遍关系，并确定能隙的上限。通过Kramers-Kronig关系和f-sum规则，研究发现能隙的上限仅取决于电子密度和电子介电常数。研究结论表明，这种关系为寻找大能隙拓扑材料提供了指导原则，并揭示了基态拓扑与激发谱之间的深层联系。