给晶体拍“CT”，登顶Nature！

本文介绍了苏黎世联邦理工学院和广岛大学的研究团队在Nature期刊上发表的关于使用X射线线性二向色性取向层析（XL-DOT）技术对五氧化二钒（V2O5）多晶样品进行纳米尺度三维成分和微观结构映射的研究。该技术能够在非破坏性条件下，获得关于V2O5晶粒、晶界、拓扑缺陷等的详细信息，空间分辨率达73纳米。研究结果不仅提高了对材料微观结构的表征能力，还揭示了由于体积晶体缺陷的存在，拓扑缺陷的动态变化过程，为后续的材料设计与优化提供了理论依据。XL-DOT技术的应用为其他功能材料的研究开辟了新的技术路径。