表征技术这么强大，科研做不好没理由！又一成像技术登上Nature！

本文介绍了苏黎世联邦理工学院和马普固体化学物理研究所的研究团队开发的一种新型X射线线性二向色取向断层扫描（XL-DOT）技术。该技术能够在三维空间中对扩展多晶和非晶材料进行定量、非侵入性的晶内和晶间表征，特别适用于催化、能量存储和转换等领域。研究团队对五氧化二钒（V2O5）多晶样品进行了详细表征，展示了该技术在纳米级分辨率下识别和分析晶体缺陷的能力，包括孪晶、扭曲和倾斜晶界，以及拓扑缺陷如彗星和三叶草缺陷。XL-DOT技术的非破坏性和光谱性质为功能材料的研究提供了新的机会，特别是在纳米尺度上对材料进行详细绘制的能力，这对于化学工业中催化剂的研究至关重要。