哈工大陈国庆教授团队《Acta Materialia》:原子尺度揭示Nb/GH3128电子束焊接接头界面反应层断裂机理
材料学网
2024-11-26 20:26
文章摘要
哈尔滨工业大学陈国庆教授团队在《Acta Materialia》发表的研究论文揭示了Nb与GH3128电子束焊接接头中Laves/Ni6Nb7界面反应层的断裂机理。研究通过透射电镜和第一性原理计算方法,构建了Laves (1 1 1)/Ni6Nb7 (0 0 0 1)界面模型,发现界面重构提高了界面稳定性,但Nb-Ni原子键的弱键合导致界面在拉伸过程中易断裂。研究结果为优化Nb与GH3128电子束焊接工艺提供了理论依据。
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