Uso de un osciloscopio para medir la longitud de onda de un diodo láser por difracción de la luz

El estudio de la refraccion de la luz es un fenomeno estudiado en los laboratorios de optica de la carrera de fisica e ingenieria y profesiones afines. El estudio, la instrumentacion y la tecnica han variado muy poco desde hace decadas, por consiguiente, el error de medicion sigue siendo los mismos. Entre las variables que se miden directamente durante el desarrollo y estudio de dicho fenomeno se encuentran: La distancia entre la rejilla de difraccion y la pantalla donde se proyecta el fenomeno de difraccion (D), una segunda medida es la longitud entre un maximo de intensidad de luz hasta donde comienza a incrementar la intensidad del segundo punto luminoso consecutivo (y ), y una tercera variable es la medicion indirecta del ancho de la rejilla de difraccion (a ). De los parametros mencionados es la distancia y la que ocasiona mayor incertidumbre en el resultado dado que esta variable es dependiente del observador o experimentador. En este trabajo se presenta una propuesta innovadora en donde este valor es posible evaluarlo directamente de una grafica cuyos datos son adquiridos empleando un osciloscopio; los resultados obtenidos mediante el procedimiento descrito en el presente trabajo proporcionan ademas de resultados con menor incertidumbre, muestran el comportamiento de intensidades de la luz difractada.