对于工业审计进程就得出衡量不确定性问题的简化程序

IF 0.8 4区工程技术 Q4 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION

Tm-Technisches Messen Pub Date : 2023-02-22 DOI:10.1515/teme-2022-0004

Ernst Wiedenmann, T. Schlüter

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引用次数: 0

摘要

这种对英国人和英国人的影响这就意味着我们将第一次提出一个新的简单化的方法来计算工业审计进程的不确定性。新发现的是，这一方针完全基于在设备更换上的测量系统规格和在可比条件下的精准度。这一简单多了，因为在许多情况下都有设备的更换手段，并且提高精度已经成为许多用户可用手段的一部分。相关程序不适合校准程序或引用。在遵守工业审计过程的框架中可以利用这个词。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

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Vereinfachtes Verfahren zur Ermittlung von Messunsicherheiten zur Bestimmung der Messprozesseignung industrieller Prüfprozesse

Zusammenfassung Aufgrund der Erfahrung in vielen Begutachtungen und Seminaren zur Berechnung von Messunsicherheiten, fällt es z.T. selbst ISO/IEC 17025 akkreditierten Prüf- und Kalibrierlaboratorien schwer, angemessene Messunsicherheiten zu berechnen. Hier soll deshalb erstmalig ein neues, vereinfachtes Verfahren zur Berechnung von Messunsicherheiten für industrielle Prüfprozesse vorgestellt werden. Neu daran ist, dass es ausschließlich auf der Berücksichtigung der Messsystemspezifikation (Gerätespezifikationen) und der erweiterten Vergleichpräzision (Präzision mit erweiterten Vergleichbedingungen) basiert. Dadurch wird es in der industriellen Praxis wesentlich einfacher Messunsicherheiten für Prüfprozesseignungen zu ermitteln, da Gerätespezifikationen in vielen Fällen vorliegen und die Bestimmung der erweiterten Vergleichpräzision bereits zum Werkzeug vieler Anwender gehört. Das Verfahren ist nicht für Kalibrierverfahren und die damit verbundenen Rückführungen geeignet. Im Rahmen von Konformitätsaussagen der industriellen Prüfprozesse kann es verwendet werden.

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来源期刊

Tm-Technisches Messen 工程技术-仪器仪表

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审稿时长

6-12 weeks

期刊介绍： The journal promotes dialogue between the developers of application-oriented sensors, measurement systems, and measurement methods and the manufacturers and measurement technologists who use them. Topics The manufacture and characteristics of new sensors for measurement technology in the industrial sector New measurement methods Hardware and software based processing and analysis of measurement signals to obtain measurement values The outcomes of employing new measurement systems and methods.