{"title":"为了测量半导体尺寸","authors":"G. Jungk, H. Menniger","doi":"10.1002/PSSB.19640050120","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Mittels Lichtsondenabtastung wird die Ortsabhangigkeit des p—n-Photoeffektes bzw. des Randschichtphotoeffektes an schrag geschliffenen Proben gemessen und daraus die Diffusionslange bestimmt. Es konnen Diffusionslangen ≧ 10 μm gemessen werden, die bei gegebener Temperatur unabhangig von der Grose der Oberflachenrekombinationsgeschwindigkeit, des Reflexionsvermogens und der Quantenausbeute sind. Die Methode wurde durch Messung an Silizium gepruft. \n \n \n \n[Russian Text Ignored].","PeriodicalId":83788,"journal":{"name":"Maine revised statutes annotated, 1964 : being the tenth revision of the Revised statutes of the state of Maine, 1964. Maine","volume":"11 1","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"1964-12-31","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"17","resultStr":"{\"title\":\"Zur Messung der Diffusionslänge der Minoritätsträger in Halbleitern\",\"authors\":\"G. Jungk, H. Menniger\",\"doi\":\"10.1002/PSSB.19640050120\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Mittels Lichtsondenabtastung wird die Ortsabhangigkeit des p—n-Photoeffektes bzw. des Randschichtphotoeffektes an schrag geschliffenen Proben gemessen und daraus die Diffusionslange bestimmt. Es konnen Diffusionslangen ≧ 10 μm gemessen werden, die bei gegebener Temperatur unabhangig von der Grose der Oberflachenrekombinationsgeschwindigkeit, des Reflexionsvermogens und der Quantenausbeute sind. Die Methode wurde durch Messung an Silizium gepruft. \\n \\n \\n \\n[Russian Text Ignored].\",\"PeriodicalId\":83788,\"journal\":{\"name\":\"Maine revised statutes annotated, 1964 : being the tenth revision of the Revised statutes of the state of Maine, 1964. Maine\",\"volume\":\"11 1\",\"pages\":\"\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"1964-12-31\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"17\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Maine revised statutes annotated, 1964 : being the tenth revision of the Revised statutes of the state of Maine, 1964. Maine\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.1002/PSSB.19640050120\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Maine revised statutes annotated, 1964 : being the tenth revision of the Revised statutes of the state of Maine, 1964. Maine","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.1002/PSSB.19640050120","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
Zur Messung der Diffusionslänge der Minoritätsträger in Halbleitern
Mittels Lichtsondenabtastung wird die Ortsabhangigkeit des p—n-Photoeffektes bzw. des Randschichtphotoeffektes an schrag geschliffenen Proben gemessen und daraus die Diffusionslange bestimmt. Es konnen Diffusionslangen ≧ 10 μm gemessen werden, die bei gegebener Temperatur unabhangig von der Grose der Oberflachenrekombinationsgeschwindigkeit, des Reflexionsvermogens und der Quantenausbeute sind. Die Methode wurde durch Messung an Silizium gepruft.
[Russian Text Ignored].