线检测算法应用于改进LEXT奥林巴斯显微镜的校准过程。

Tecnologia y Ciencia Pub Date : 2021-09-03 DOI:10.33414/rtyc.42.1-11.2021

G. J. Bergues, C. Schurrer, Juan Caselles, Nancy Brambilla

{"title":"线检测算法应用于改进LEXT奥林巴斯显微镜的校准过程。","authors":"G. J. Bergues, C. Schurrer, Juan Caselles, Nancy Brambilla","doi":"10.33414/rtyc.42.1-11.2021","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"En este trabajo se presenta un método para procesar imágenes para optimizar la calibración de microscopios ópticos Lext Olympus con plantillas. El algoritmo propuesto ya funciona en las escalas de los autocolimadores Nikon, que son similares a las presentes en las plantillas de calibración de estos microscopios. El algoritmo fue adaptado para medir estas plantillas y así optimizar la calibración.\n.","PeriodicalId":33018,"journal":{"name":"Tecnologia y Ciencia","volume":" ","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2021-09-03","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Algoritmo de detección de líneas aplicado a la mejora de los procesos de calibración del microscopio LEXT OLYMPUS.\",\"authors\":\"G. J. Bergues, C. Schurrer, Juan Caselles, Nancy Brambilla\",\"doi\":\"10.33414/rtyc.42.1-11.2021\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"En este trabajo se presenta un método para procesar imágenes para optimizar la calibración de microscopios ópticos Lext Olympus con plantillas. El algoritmo propuesto ya funciona en las escalas de los autocolimadores Nikon, que son similares a las presentes en las plantillas de calibración de estos microscopios. El algoritmo fue adaptado para medir estas plantillas y así optimizar la calibración.\\n.\",\"PeriodicalId\":33018,\"journal\":{\"name\":\"Tecnologia y Ciencia\",\"volume\":\" \",\"pages\":\"\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2021-09-03\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Tecnologia y Ciencia\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.33414/rtyc.42.1-11.2021\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Tecnologia y Ciencia","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.33414/rtyc.42.1-11.2021","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}

引用次数: 0

摘要

本文提出了一种图像处理方法，以优化Lext奥林巴斯光学显微镜的模板校准。该算法已经适用于尼康自准直器的刻度，这与这些显微镜的校准模板中的刻度相似。该算法被用于测量这些模板，从而优化校准。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

查看原文本刊更多论文

Algoritmo de detección de líneas aplicado a la mejora de los procesos de calibración del microscopio LEXT OLYMPUS.

En este trabajo se presenta un método para procesar imágenes para optimizar la calibración de microscopios ópticos Lext Olympus con plantillas. El algoritmo propuesto ya funciona en las escalas de los autocolimadores Nikon, que son similares a las presentes en las plantillas de calibración de estos microscopios. El algoritmo fue adaptado para medir estas plantillas y así optimizar la calibración. .

求助全文

通过发布文献求助，成功后即可免费获取论文全文。去求助

来源期刊

Tecnologia y Ciencia

自引率

0.00%

发文量

审稿时长

3 weeks