{"title":"分析主动控制设备的设计特点和计量支持","authors":"Денисюк В.Ю.","doi":"10.36910/10.36910/6775-2313-5352-2024-24-05","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"В статті описано основні умови вибору схеми контролю в процесі обробки для забезпечення високої точності вимірювання. Встановлено, що даний час у приладах активного контролю для шліфувальних верстатів найбільше поширення отримав індуктивний принцип перетворення розміру в покази шкального або цифрового індикатора. Описано основні метрологічні характеристики приладу активного контролю, функціональний зв’язок приладу з верстатом, їх компонування та обмін сигналами між верстатом та приладом. Також описано способи контакту вимірювальних наконечників приладів активного контролю з оброблюваною деталлю для визначення точності та надійності вимірювання.","PeriodicalId":293419,"journal":{"name":"Перспективні технології та прилади","volume":"24 11","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2024-06-02","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"АНАЛІЗ ОСОБЛИВОСТЕЙ КОНСТРУЮВАННЯ ТА МЕТРОЛОГІЧНОГО ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ ПРИЛАДІВ АКТИВНОГО КОНТРОЛЮ\",\"authors\":\"Денисюк В.Ю.\",\"doi\":\"10.36910/10.36910/6775-2313-5352-2024-24-05\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"В статті описано основні умови вибору схеми контролю в процесі обробки для забезпечення високої точності вимірювання. Встановлено, що даний час у приладах активного контролю для шліфувальних верстатів найбільше поширення отримав індуктивний принцип перетворення розміру в покази шкального або цифрового індикатора. Описано основні метрологічні характеристики приладу активного контролю, функціональний зв’язок приладу з верстатом, їх компонування та обмін сигналами між верстатом та приладом. Також описано способи контакту вимірювальних наконечників приладів активного контролю з оброблюваною деталлю для визначення точності та надійності вимірювання.\",\"PeriodicalId\":293419,\"journal\":{\"name\":\"Перспективні технології та прилади\",\"volume\":\"24 11\",\"pages\":\"\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2024-06-02\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Перспективні технології та прилади\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.36910/10.36910/6775-2313-5352-2024-24-05\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Перспективні технології та прилади","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.36910/10.36910/6775-2313-5352-2024-24-05","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
АНАЛІЗ ОСОБЛИВОСТЕЙ КОНСТРУЮВАННЯ ТА МЕТРОЛОГІЧНОГО ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ ПРИЛАДІВ АКТИВНОГО КОНТРОЛЮ
В статті описано основні умови вибору схеми контролю в процесі обробки для забезпечення високої точності вимірювання. Встановлено, що даний час у приладах активного контролю для шліфувальних верстатів найбільше поширення отримав індуктивний принцип перетворення розміру в покази шкального або цифрового індикатора. Описано основні метрологічні характеристики приладу активного контролю, функціональний зв’язок приладу з верстатом, їх компонування та обмін сигналами між верстатом та приладом. Також описано способи контакту вимірювальних наконечників приладів активного контролю з оброблюваною деталлю для визначення точності та надійності вимірювання.
求助内容：
应助结果提醒方式：
京公网安备 11010802042870号
