{"title":"基于参数失效预测产品使用寿命的方法","authors":"Андрей Строгонов","doi":"10.22184/1992-4178.2024.233.2.88.96","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"В статье рассмотрены основные методологические подходы, принятые в зарубежной и отечественной инженерных школах в области прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам.","PeriodicalId":303934,"journal":{"name":"ELECTRONICS: SCIENCE, TECHNOLOGY, BUSINESS","volume":"6 23","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2024-03-06","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"МЕТОДЫ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ДОЛГОВЕЧНОСТИ ИС ПО ПАРАМЕТРИЧЕСКИМ ОТКАЗАМ\",\"authors\":\"Андрей Строгонов\",\"doi\":\"10.22184/1992-4178.2024.233.2.88.96\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"В статье рассмотрены основные методологические подходы, принятые в зарубежной и отечественной инженерных школах в области прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам.\",\"PeriodicalId\":303934,\"journal\":{\"name\":\"ELECTRONICS: SCIENCE, TECHNOLOGY, BUSINESS\",\"volume\":\"6 23\",\"pages\":\"\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2024-03-06\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"ELECTRONICS: SCIENCE, TECHNOLOGY, BUSINESS\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2024.233.2.88.96\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"ELECTRONICS: SCIENCE, TECHNOLOGY, BUSINESS","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2024.233.2.88.96","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
МЕТОДЫ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ДОЛГОВЕЧНОСТИ ИС ПО ПАРАМЕТРИЧЕСКИМ ОТКАЗАМ
В статье рассмотрены основные методологические подходы, принятые в зарубежной и отечественной инженерных школах в области прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам.
求助内容：
应助结果提醒方式：
京公网安备 11010802042870号
