{"title":"设计用于非接触式线性位移自动测量的高精度光电设备的方法","authors":"Денисюк В.Ю., Пташенчук В.В.","doi":"10.36910/10.36910/6775-2313-5352-2023-23-04","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"В статті розглядається методика проєктування оптико-електронних приладів, що дозволяють з високою точністю вимірювати поперечні переміщення об’єктів при їх поздовжньому переміщенні від єдиних конструкторських баз. На основі розробленої математичної моделі і застосовних алгоритмів оцінки координат зображень об’єктів сформовані цільові функції проєктування для контролю переміщень, що дозволяють на системотехнічному рівні виконувати проєктні процедури багатоваріантного аналізу і параметричної оптимізації. Запропонована схема оптико-електронних приладів при оптимізованих значеннях параметрів елементів дозволить проводити вимірювання координат об’єктів з середньоквадратичним відхиленням похибки, що не перевищує 1 мкм.","PeriodicalId":293419,"journal":{"name":"Перспективні технології та прилади","volume":"27 5","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2024-01-09","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"МЕТОДИКА ПРОЄКТУВАННЯ ВИСОКОТОЧНИХ ОПТИКО-ЕЛЕКТРОННИХ ПРИЛАДІВ ДЛЯ БЕЗКОНТАКТНОГО АВТОМАТИЧНОГО ВИМІРЮВАННЯ ЛІНІЙНИХ ПЕРЕМІЩЕНЬ\",\"authors\":\"Денисюк В.Ю., Пташенчук В.В.\",\"doi\":\"10.36910/10.36910/6775-2313-5352-2023-23-04\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"В статті розглядається методика проєктування оптико-електронних приладів, що дозволяють з високою точністю вимірювати поперечні переміщення об’єктів при їх поздовжньому переміщенні від єдиних конструкторських баз. На основі розробленої математичної моделі і застосовних алгоритмів оцінки координат зображень об’єктів сформовані цільові функції проєктування для контролю переміщень, що дозволяють на системотехнічному рівні виконувати проєктні процедури багатоваріантного аналізу і параметричної оптимізації. Запропонована схема оптико-електронних приладів при оптимізованих значеннях параметрів елементів дозволить проводити вимірювання координат об’єктів з середньоквадратичним відхиленням похибки, що не перевищує 1 мкм.\",\"PeriodicalId\":293419,\"journal\":{\"name\":\"Перспективні технології та прилади\",\"volume\":\"27 5\",\"pages\":\"\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2024-01-09\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Перспективні технології та прилади\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.36910/10.36910/6775-2313-5352-2023-23-04\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Перспективні технології та прилади","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.36910/10.36910/6775-2313-5352-2023-23-04","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
МЕТОДИКА ПРОЄКТУВАННЯ ВИСОКОТОЧНИХ ОПТИКО-ЕЛЕКТРОННИХ ПРИЛАДІВ ДЛЯ БЕЗКОНТАКТНОГО АВТОМАТИЧНОГО ВИМІРЮВАННЯ ЛІНІЙНИХ ПЕРЕМІЩЕНЬ
В статті розглядається методика проєктування оптико-електронних приладів, що дозволяють з високою точністю вимірювати поперечні переміщення об’єктів при їх поздовжньому переміщенні від єдиних конструкторських баз. На основі розробленої математичної моделі і застосовних алгоритмів оцінки координат зображень об’єктів сформовані цільові функції проєктування для контролю переміщень, що дозволяють на системотехнічному рівні виконувати проєктні процедури багатоваріантного аналізу і параметричної оптимізації. Запропонована схема оптико-електронних приладів при оптимізованих значеннях параметрів елементів дозволить проводити вимірювання координат об’єктів з середньоквадратичним відхиленням похибки, що не перевищує 1 мкм.
求助内容：
应助结果提醒方式：
京公网安备 11010802042870号
