V. Tychkov, V. Halchenko, R. Trembovetska, Natalii Tychkova
{"title":"根据对物体影响最大因素的先验信息，改进涡流结构学测量控制过程的计算机模型","authors":"V. Tychkov, V. Halchenko, R. Trembovetska, Natalii Tychkova","doi":"10.31713/mcit.2023.033","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"На основі запропонованої методології, сутність якої полягає у визначенні профілів електрофізичних параметрів пласких об'єктів вихрострумового контролю шляхом використання сурогатної оптимізації в просторі пошуку скороченої розмірності, проведено моделювання процесу вимірювального контролю з використанням накопиченої апріорної інформації щодо найвпливовіших факторів, які діють на об’єкт.","PeriodicalId":281857,"journal":{"name":"Modeling Control and Information Technologies","volume":"18 1","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2023-11-22","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Уточнене комп’ютерне моделювання процесу вимірювального контролю у вихрострумовій структуроскопії на основі врахування апріорної інформації про найвпливовіші фактори щодо об’єктів\",\"authors\":\"V. Tychkov, V. Halchenko, R. Trembovetska, Natalii Tychkova\",\"doi\":\"10.31713/mcit.2023.033\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"На основі запропонованої методології, сутність якої полягає у визначенні профілів електрофізичних параметрів пласких об'єктів вихрострумового контролю шляхом використання сурогатної оптимізації в просторі пошуку скороченої розмірності, проведено моделювання процесу вимірювального контролю з використанням накопиченої апріорної інформації щодо найвпливовіших факторів, які діють на об’єкт.\",\"PeriodicalId\":281857,\"journal\":{\"name\":\"Modeling Control and Information Technologies\",\"volume\":\"18 1\",\"pages\":\"\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2023-11-22\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Modeling Control and Information Technologies\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.31713/mcit.2023.033\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Modeling Control and Information Technologies","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.31713/mcit.2023.033","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
Уточнене комп’ютерне моделювання процесу вимірювального контролю у вихрострумовій структуроскопії на основі врахування апріорної інформації про найвпливовіші фактори щодо об’єктів
На основі запропонованої методології, сутність якої полягає у визначенні профілів електрофізичних параметрів пласких об'єктів вихрострумового контролю шляхом використання сурогатної оптимізації в просторі пошуку скороченої розмірності, проведено моделювання процесу вимірювального контролю з використанням накопиченої апріорної інформації щодо найвпливовіших факторів, які діють на об’єкт.
求助内容：
应助结果提醒方式：
京公网安备 11010802042870号
