{"title":"Оптические плазмонные резонансы в массивах нанокластеров Au","authors":"","doi":"10.34077/rcsp2019-42","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Данная работа посвящена исследованию явления локализованного поверхностного плазмонного\nрезонанса (ЛППР) в массивах нанокластеров Au с помощью оптической спектроскопии отражения.\nМассивы нанокластеров, имеющих форму цилиндра, диаметр и период которых варьируются в\nдиапазоне 30-150 и 130-200 нм, соответственно, были изготовлены на подложках Si и Si/SiO2\nметодом электронно-лучевой литографии. Из сравнения экспериментальных спектров\nотражения с численно рассчитанными методом конечной разницы во временной области (англ. finite\ndifference time domain, FDTD), были определены структурные параметры модели плазмонных\nнаноструктур и использованы в дальнейшем для расчета спектров поглощения плазмонных структур.\nЗначения частот ЛППР определялись по максимумам спектров поглощения.\nВыявлена сильная зависимость частотного положения ЛППР от размера нанокластеров,\nрасстояния между ними, а также от толщины слоя SiO2 в нанометровом диапазоне. Особое внимание\nбыло уделено наблюдению по спектрам отражения формирования поперечной плазмонной моды,\nраспространяющейся вдоль поверхности подложки, и поляризованной перпендикулярно\nповерхности. Показано, что возбуждение данной моды связано с рассеянием электромагнитного поля\nна соседних нанокластерах.\nПредложенный метод обеспечивает возможность оперативного определения частот ЛППР по\nспектрам оптического отражения, что особенно важно в случае непрозрачных подложек (включая\nподложки Si и Si/SiO2), для которых измерение оптического поглощения оказывается невозможным.\nШирокое поле потенциальных применений металлических наноструктур с хорошо контролируемыми\nплазмонными свойствами включает поверхностно-усиленное инфракрасное поглощение,\nфотолюминесценцию и комбинационное рассеяние, а также передачу сигнала в кремниевой\nфотонике.","PeriodicalId":118786,"journal":{"name":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","volume":"33 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-05-24","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-42","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
摘要
这篇论文的主题是通过光学光谱学研究Au纳米集群中局部等离子体燃烧的现象。直径、直径和周期分别在Si和Si/ sio2m底座上制造的纳米集群。比较实验光谱学和时间差异的数值方法(ungle)。finitedierence time domain (FDTD)已经确定了等离子体纳米技术模型的结构参数,并用于计算等离子体结构吸收光谱。lpr频率的值是由吸收光谱的最大值决定的。lpr频率位置与纳米集群大小、距离以及纳米范围内SiO2层的厚度之间存在很强的关系。特别注意的是沿着基座表面传播的横向等离子体时尚形成的光谱,以及极化垂直表面。它表明,这种时尚的兴奋与周围纳米集群的电磁放电有关。拟议的方法提供了一种快速测定光学反射频率的能力,在不透明的底盘(包括Si和Si/SiO2底盘)中尤其重要。金属纳米手柄具有高度控制的微质特性的潜在应用范围包括表面强化红外吸收、光照荧光和组合散射以及硅光子中的信号传输。
Оптические плазмонные резонансы в массивах нанокластеров Au
Данная работа посвящена исследованию явления локализованного поверхностного плазмонного
резонанса (ЛППР) в массивах нанокластеров Au с помощью оптической спектроскопии отражения.
Массивы нанокластеров, имеющих форму цилиндра, диаметр и период которых варьируются в
диапазоне 30-150 и 130-200 нм, соответственно, были изготовлены на подложках Si и Si/SiO2
методом электронно-лучевой литографии. Из сравнения экспериментальных спектров
отражения с численно рассчитанными методом конечной разницы во временной области (англ. finite
difference time domain, FDTD), были определены структурные параметры модели плазмонных
наноструктур и использованы в дальнейшем для расчета спектров поглощения плазмонных структур.
Значения частот ЛППР определялись по максимумам спектров поглощения.
Выявлена сильная зависимость частотного положения ЛППР от размера нанокластеров,
расстояния между ними, а также от толщины слоя SiO2 в нанометровом диапазоне. Особое внимание
было уделено наблюдению по спектрам отражения формирования поперечной плазмонной моды,
распространяющейся вдоль поверхности подложки, и поляризованной перпендикулярно
поверхности. Показано, что возбуждение данной моды связано с рассеянием электромагнитного поля
на соседних нанокластерах.
Предложенный метод обеспечивает возможность оперативного определения частот ЛППР по
спектрам оптического отражения, что особенно важно в случае непрозрачных подложек (включая
подложки Si и Si/SiO2), для которых измерение оптического поглощения оказывается невозможным.
Широкое поле потенциальных применений металлических наноструктур с хорошо контролируемыми
плазмонными свойствами включает поверхностно-усиленное инфракрасное поглощение,
фотолюминесценцию и комбинационное рассеяние, а также передачу сигнала в кремниевой
фотонике.