PERBANDINGAN PENDEKATAN FUNGSI GAUSS DAN FUNGSI LORENTZ PADA DEKOMPOSISI POLA XRD OKSIDA GRAFENA DAN OKSIDA GRAFENA TEREDUKSI

Dekomposisi terhadap data X-ray Diffraction (XRD) menjadi penting untuk dilakukan ketika pola difraktogram yang dihasilkan pada suatu bahan memiliki karakteristik yang melebar atau tidak simetris. Dibandingkan dengan identifikasi pola XRD yang standar, identifikasi melalui dekomposisi data XRD dapat memberikan informasi yang lebih tepat. Informasi yang dapat diperoleh melalui dekomposisi pola XRD adalah posisi puncak, nilai full width at half maximum (FWHM), dan nilai intensitas dari tiap puncak. Dalam penelitian ini dilakukan dekomposisi data XRD bahan graphene oxide (GO) dan reduced graphene oxide (rGO) dari PDUPT 2017 dengan menggunakan dua pendekatan fungsi, yakni fungsi Gauss dan fungsi Lorentz. Dekomposisi menggunakan perangkat lunak Origin 2022b menunjukkan hasil nilai R-square yang lebih tinggi pada data XRD GO adalah dengan pendekatan fungsi Lorentz, sedangkan pada data XRD rGO adalah dengan pendekatan fungsi Gauss. Dekomposisi data XRD GO menghasilkan sebuah puncak dengan nilai  dengan d=8,2 Å. Dekomposisi data XRD rGO menghasilkan empat puncak yang diindikasikan sebagai empat fase rGO yang berbeda-beda dengan jarak antar lapisan tiap fase secara berurutan adalah 7,333 Å;4,378 Å;3,676 Å;3,417 Å.Kata kunci: pola XRD, dekomposisi, fungsi Gauss, fungsi Lorentz, oksida grafena