3C相碳化硅半导体中的电子输运

A. M. D. Correa, C. Rodrigues
{"title":"3C相碳化硅半导体中的电子输运","authors":"A. M. D. Correa, C. Rodrigues","doi":"10.18227/2447-7028rct.v8i06430","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Neste trabalho estudamos teoricamente a mobilidade eletrônica do semicondutor carbeto de silício na fase 3C, chamado de 3C-SiC. O 3C-SiC tem mostrado uma grande potencialidade para aplicações em condições extremas. Assim o estudo da mobilidade eletrônica deste semicondutor é de grande interesse. Neste trabalho foi deduzido teoricamente a velocidade de deriva, o deslocamento e a mobilidade dos portadores de carga no semicondutor 3C-SiC dopado tipo n e submetido a um campo elétrico constante sendo analisada a dependência destas propriedades com a intensidade do campo elétrico e temperatura. Para tanto, foi utilizada uma equação diferencial de movimento com um termo de fonte (devido a campos elétricos) e um termo de resistência ao movimento (resistência elétrica).","PeriodicalId":151370,"journal":{"name":"RCT - Revista de Ciência e Tecnologia","volume":"2 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2022-07-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Transporte Eletrônico no Semicondutor Carbeto de Silício na Fase 3C\",\"authors\":\"A. M. D. Correa, C. Rodrigues\",\"doi\":\"10.18227/2447-7028rct.v8i06430\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Neste trabalho estudamos teoricamente a mobilidade eletrônica do semicondutor carbeto de silício na fase 3C, chamado de 3C-SiC. O 3C-SiC tem mostrado uma grande potencialidade para aplicações em condições extremas. Assim o estudo da mobilidade eletrônica deste semicondutor é de grande interesse. Neste trabalho foi deduzido teoricamente a velocidade de deriva, o deslocamento e a mobilidade dos portadores de carga no semicondutor 3C-SiC dopado tipo n e submetido a um campo elétrico constante sendo analisada a dependência destas propriedades com a intensidade do campo elétrico e temperatura. Para tanto, foi utilizada uma equação diferencial de movimento com um termo de fonte (devido a campos elétricos) e um termo de resistência ao movimento (resistência elétrica).\",\"PeriodicalId\":151370,\"journal\":{\"name\":\"RCT - Revista de Ciência e Tecnologia\",\"volume\":\"2 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2022-07-01\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"RCT - Revista de Ciência e Tecnologia\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.18227/2447-7028rct.v8i06430\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"RCT - Revista de Ciência e Tecnologia","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.18227/2447-7028rct.v8i06430","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0

摘要

在这项工作中,我们从理论上研究了碳化硅半导体在3C相中的电子迁移率,称为3C-SiC。3C-SiC在极端条件下显示出巨大的应用潜力。因此,研究这种半导体的电子迁移率是非常有趣的。本文从理论上推导了n型掺杂3C-SiC半导体中载流子在恒定电场作用下的漂移速度、位移和迁移率,并分析了这些性质与电场强度和温度的关系。为此,我们使用了一个带有源项(由于电场)和运动阻力项(电阻)的运动微分方程。
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
Transporte Eletrônico no Semicondutor Carbeto de Silício na Fase 3C
Neste trabalho estudamos teoricamente a mobilidade eletrônica do semicondutor carbeto de silício na fase 3C, chamado de 3C-SiC. O 3C-SiC tem mostrado uma grande potencialidade para aplicações em condições extremas. Assim o estudo da mobilidade eletrônica deste semicondutor é de grande interesse. Neste trabalho foi deduzido teoricamente a velocidade de deriva, o deslocamento e a mobilidade dos portadores de carga no semicondutor 3C-SiC dopado tipo n e submetido a um campo elétrico constante sendo analisada a dependência destas propriedades com a intensidade do campo elétrico e temperatura. Para tanto, foi utilizada uma equação diferencial de movimento com um termo de fonte (devido a campos elétricos) e um termo de resistência ao movimento (resistência elétrica).
求助全文
通过发布文献求助,成功后即可免费获取论文全文。 去求助
来源期刊
自引率
0.00%
发文量
0
×
引用
GB/T 7714-2015
复制
MLA
复制
APA
复制
导出至
BibTeX EndNote RefMan NoteFirst NoteExpress
×
提示
您的信息不完整,为了账户安全,请先补充。
现在去补充
×
提示
您因"违规操作"
具体请查看互助需知
我知道了
×
提示
确定
请完成安全验证×
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
0
联系我们:info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:481959085
Book学术官方微信