半导体纳米晶体局部光谱分析

{"title":"半导体纳米晶体局部光谱分析","authors":"","doi":"10.34077/rcsp2019-39","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Предложен новый метод локального спектрального анализа полупроводниковых наноструктур,\nоснованный на обнаруженном гигантском комбинационное рассеяние света (КРС)\nполупроводниковыми наноструктурами, расположенными на поверхности массива нанокластеров\nAu, вблизи металлизированного кантилевера атомно-силового микроскопа (АСМ).\nВ зазоре между металлическими нанокластерами и острием кантилевера АСМ микроскопа, где\nрасположена полупроводниковая наноструктура, возникает сильное увеличение локального поля\n(«горячая точка») и, как следствие, резкое усиление сигнала КРС.\nВ эксперименте наблюдается гигантское усиление сигнала КРС локализованными продольными и\nповерхностными оптическими фононами (LO и SO) в нанокристаллах (НК) CdSe (коэффициент\nусиления 106). Картирование сигнала КРС на частоте оптических фононов CdSe позволило изучить\nэффекты локальных электромагнитных полей на фононный спектр нанокристаллов CdSe с\nпространственным разрешением 2 нм [1], определить фононный спектр отдельных нанокристаллов\nCdSe размером 6 нм [2], что находится далеко за дифракционным пределом (Рис.1б). Показано, что\nмаксимальное усиление сигнала наблюдается от торцов нанокластеров Au, имеющих\nцилиндрическую форму, где локальное электромагнитное поле максимально.","PeriodicalId":118786,"journal":{"name":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","volume":"1 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-05-24","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Локальный спектральный анализ полупроводниковых нанокристаллов\",\"authors\":\"\",\"doi\":\"10.34077/rcsp2019-39\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Предложен новый метод локального спектрального анализа полупроводниковых наноструктур,\\nоснованный на обнаруженном гигантском комбинационное рассеяние света (КРС)\\nполупроводниковыми наноструктурами, расположенными на поверхности массива нанокластеров\\nAu, вблизи металлизированного кантилевера атомно-силового микроскопа (АСМ).\\nВ зазоре между металлическими нанокластерами и острием кантилевера АСМ микроскопа, где\\nрасположена полупроводниковая наноструктура, возникает сильное увеличение локального поля\\n(«горячая точка») и, как следствие, резкое усиление сигнала КРС.\\nВ эксперименте наблюдается гигантское усиление сигнала КРС локализованными продольными и\\nповерхностными оптическими фононами (LO и SO) в нанокристаллах (НК) CdSe (коэффициент\\nусиления 106). Картирование сигнала КРС на частоте оптических фононов CdSe позволило изучить\\nэффекты локальных электромагнитных полей на фононный спектр нанокристаллов CdSe с\\nпространственным разрешением 2 нм [1], определить фононный спектр отдельных нанокристаллов\\nCdSe размером 6 нм [2], что находится далеко за дифракционным пределом (Рис.1б). Показано, что\\nмаксимальное усиление сигнала наблюдается от торцов нанокластеров Au, имеющих\\nцилиндрическую форму, где локальное электромагнитное поле максимально.\",\"PeriodicalId\":118786,\"journal\":{\"name\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"volume\":\"1 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2019-05-24\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-39\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-39","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0

摘要

他们提出了一种新的局部光谱分析半导体纳米手柄的方法,基于在纳米束表面发现的巨大组合散射,靠近原子动力显微镜(asm)。在金属纳米集群和asm显微镜尖之间的间隙中,半导体纳米手柄的位置出现了强烈的局部磁场(“热点”)增加,从而大大增强了sgc信号。在实验中,在纳米晶体(na) CdSe(106系数)中,纵向和表面光学背景(LO和SO)的信号得到了巨大的增强。在CdSe光子光子频率下,CdSe信号映射可以通过2 nm(1)的求子谱来研究局部电磁场的影响,确定6 nm(2)大小的单个纳米晶体光谱,这远远超出了衍射极限(里斯1b)。信号的最大放大来自于Au纳米集群的顶点,这是一个圆柱形的形状,局部电磁场是最大的。
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
Локальный спектральный анализ полупроводниковых нанокристаллов
Предложен новый метод локального спектрального анализа полупроводниковых наноструктур, основанный на обнаруженном гигантском комбинационное рассеяние света (КРС) полупроводниковыми наноструктурами, расположенными на поверхности массива нанокластеров Au, вблизи металлизированного кантилевера атомно-силового микроскопа (АСМ). В зазоре между металлическими нанокластерами и острием кантилевера АСМ микроскопа, где расположена полупроводниковая наноструктура, возникает сильное увеличение локального поля («горячая точка») и, как следствие, резкое усиление сигнала КРС. В эксперименте наблюдается гигантское усиление сигнала КРС локализованными продольными и поверхностными оптическими фононами (LO и SO) в нанокристаллах (НК) CdSe (коэффициент усиления 106). Картирование сигнала КРС на частоте оптических фононов CdSe позволило изучить эффекты локальных электромагнитных полей на фононный спектр нанокристаллов CdSe с пространственным разрешением 2 нм [1], определить фононный спектр отдельных нанокристаллов CdSe размером 6 нм [2], что находится далеко за дифракционным пределом (Рис.1б). Показано, что максимальное усиление сигнала наблюдается от торцов нанокластеров Au, имеющих цилиндрическую форму, где локальное электромагнитное поле максимально.
求助全文
通过发布文献求助,成功后即可免费获取论文全文。 去求助
来源期刊
自引率
0.00%
发文量
0
×
引用
GB/T 7714-2015
复制
MLA
复制
APA
复制
导出至
BibTeX EndNote RefMan NoteFirst NoteExpress
×
提示
您的信息不完整,为了账户安全,请先补充。
现在去补充
×
提示
您因"违规操作"
具体请查看互助需知
我知道了
×
提示
确定
请完成安全验证×
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
0
联系我们:info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:481959085
Book学术官方微信