ELECTRON PROBE MICROANALYSIS OF CARBONACEOUS ROCKS

113 ВВЕДЕНИЕ Количественный рентгеновский микроанализ длинноволновых линий (Кα-линий) легких элементов (Be, B, C, N, O и F) связан со значительными трудностями, которые вызваны тем, что при измерении длинноволнового низкоэнергетического (≥12Å и ≤1 кэв) рентгеновского излучения велико поглощение первичного излучения и общепринятые модели поправок для анализа легких элементов могут не работать. Такое низкоэнергетическое излучение регистрируется кристалл-дифракционными (волновыми) спектрометрами с использованием кристаллов с большим межплоскостным расстоянием d, в то время как для энергодисперсионных спектрометров анализ легких элементов осложняется наличием в спектре линий более тяжелых элементов и необходимостью учитывать наложение рентгеновских линий, а также смещение линий за счет химической связи (Гоулдстейн и др., 1984). На результаты количественного анализа оказывает также влияние загрязнение образца углеродной пленкой, полимеризующейся на поверхности образца из остаточных масляных паров в камере образца под воздействием электронного пучка, а также используемые при проведении количественного анализа эталоны. Рентгеновские эмиссионные спектры для легких элементов состоят из одной полосы, определяемой переходом валентного электрона на вакансию в К-оболочке. Как известУДК 544.171.44:552.54 DOI:10.30836/igs.2522-9753.2019.185751