等离子体加工后硅表面光学特性

{"title":"等离子体加工后硅表面光学特性","authors":"","doi":"10.34077/rcsp2019-31","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Плазменные обработки широко используются для пассивации и снижения скорости\nповерхностной рекомбинации в солнечных элементах (СЭ) и фотоприемниках. Кроме того, условия\nобработки поверхности кремния определяют свойства ОПЗ и слоев окисла на границе сращивания\nпластин n- и p-типа, соединяемых путем бондинга для многопереходных СЭ. В работе исследовано\nвлияние газового состава плазмы с диэлектрическим барьером, пассивирующей поверхность кремния\nпри атмосферном давлении (DBD) на оборудовании SUSS MicroTec.\nАнализ соединений, образующихся на поверхности кремня, проводился методом многократного\nнарушенного полного внутреннего отражения (МНПВО). Из пластин безкислородного кремния с\nдвухсторонней полировкой изготавливались образцы размером 40 х 20 мм. Короткие торцы\nшлифовались под углом 45о\nи полировались так, что получалась трапеция. ИК излучение\nвводилось/выводилось через короткие полированные грани призмы и, таким образом на\nспектрометре IFS 66 регистрировался спектр пропускания призмы после приблизительно 100\nотражений от поверхности. Исходно регистрировался спектр пропускания призм с гидрофобной\nповерхностью после химической обработки. Этот спектр поглощения вычитался из спектра\nпоглощения призмы, обработанной в DBD плазме.\nНа рисунке 1 приведены такие разностные спектры поглощения призм, обработанных в азотной\nплазме без водорода и с добавление водорода. Отметим, что после обработки поверхности в плазме\nлюбого состава поверхность кремния становится гидрофильной, что проявляется в виде широкой\nсоставной полосы вблизи 3500 см-1\n. Как видно из рисунка при обработке в плазме исчезают\nпервоначально присутствовавшие Si-H и C-H связи, однако на гидрофильной поверхности\nформируется пленка SiO2 (LO и TO фононы) с различными свойствами.","PeriodicalId":118786,"journal":{"name":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","volume":"25 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-05-24","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Оптические свойства поверхности кремния после плазменных обработок\",\"authors\":\"\",\"doi\":\"10.34077/rcsp2019-31\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Плазменные обработки широко используются для пассивации и снижения скорости\\nповерхностной рекомбинации в солнечных элементах (СЭ) и фотоприемниках. Кроме того, условия\\nобработки поверхности кремния определяют свойства ОПЗ и слоев окисла на границе сращивания\\nпластин n- и p-типа, соединяемых путем бондинга для многопереходных СЭ. В работе исследовано\\nвлияние газового состава плазмы с диэлектрическим барьером, пассивирующей поверхность кремния\\nпри атмосферном давлении (DBD) на оборудовании SUSS MicroTec.\\nАнализ соединений, образующихся на поверхности кремня, проводился методом многократного\\nнарушенного полного внутреннего отражения (МНПВО). Из пластин безкислородного кремния с\\nдвухсторонней полировкой изготавливались образцы размером 40 х 20 мм. Короткие торцы\\nшлифовались под углом 45о\\nи полировались так, что получалась трапеция. ИК излучение\\nвводилось/выводилось через короткие полированные грани призмы и, таким образом на\\nспектрометре IFS 66 регистрировался спектр пропускания призмы после приблизительно 100\\nотражений от поверхности. Исходно регистрировался спектр пропускания призм с гидрофобной\\nповерхностью после химической обработки. Этот спектр поглощения вычитался из спектра\\nпоглощения призмы, обработанной в DBD плазме.\\nНа рисунке 1 приведены такие разностные спектры поглощения призм, обработанных в азотной\\nплазме без водорода и с добавление водорода. Отметим, что после обработки поверхности в плазме\\nлюбого состава поверхность кремния становится гидрофильной, что проявляется в виде широкой\\nсоставной полосы вблизи 3500 см-1\\n. Как видно из рисунка при обработке в плазме исчезают\\nпервоначально присутствовавшие Si-H и C-H связи, однако на гидрофильной поверхности\\nформируется пленка SiO2 (LO и TO фононы) с различными свойствами.\",\"PeriodicalId\":118786,\"journal\":{\"name\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"volume\":\"25 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2019-05-24\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-31\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-31","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0

摘要

等离子体处理广泛用于被动和减少太阳能电池(s)和光电接收器的快速表面重组。此外,硅表面处理的条件决定了在n- p型和p型接合板边界上的氧化物和氧化物层的性质。在研究电介质屏障的等离子成分的研究中,它在大气压力下(DBD)的硅表面被动。对硅表面产生的化合物的分析是通过多次中断的全内部反射(mpv)进行的。无氧硅薄板由双侧抛光制成的样品大小为40 x 20毫米。短的在45度角打磨,这样就形成了梯形。红外辐射/通过棱镜的短抛光边提取,IFS 66光谱仪记录了从表面反射约100次的棱镜光谱。化学处理后,棱镜通过水生表面的棱镜的光谱最初被记录下来。这种吸收光谱是从DBD等离子体中的棱镜吸收光谱中减去的。图1给出了在没有氢的氮等离子中处理的棱镜的不同吸收光谱,加上氢。我们注意到,在任何化合物的表面加工之后,硅的表面都变成了水滤波器,在3500厘米-1附近出现了一个广泛的复合带。从血浆处理中可以看到,最初存在的Si-H和C-H键消失了,但是SiO2 (LO和TO phonon)薄膜在水力表面形成,具有不同的特性。
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
Оптические свойства поверхности кремния после плазменных обработок
Плазменные обработки широко используются для пассивации и снижения скорости поверхностной рекомбинации в солнечных элементах (СЭ) и фотоприемниках. Кроме того, условия обработки поверхности кремния определяют свойства ОПЗ и слоев окисла на границе сращивания пластин n- и p-типа, соединяемых путем бондинга для многопереходных СЭ. В работе исследовано влияние газового состава плазмы с диэлектрическим барьером, пассивирующей поверхность кремния при атмосферном давлении (DBD) на оборудовании SUSS MicroTec. Анализ соединений, образующихся на поверхности кремня, проводился методом многократного нарушенного полного внутреннего отражения (МНПВО). Из пластин безкислородного кремния с двухсторонней полировкой изготавливались образцы размером 40 х 20 мм. Короткие торцы шлифовались под углом 45о и полировались так, что получалась трапеция. ИК излучение вводилось/выводилось через короткие полированные грани призмы и, таким образом на спектрометре IFS 66 регистрировался спектр пропускания призмы после приблизительно 100 отражений от поверхности. Исходно регистрировался спектр пропускания призм с гидрофобной поверхностью после химической обработки. Этот спектр поглощения вычитался из спектра поглощения призмы, обработанной в DBD плазме. На рисунке 1 приведены такие разностные спектры поглощения призм, обработанных в азотной плазме без водорода и с добавление водорода. Отметим, что после обработки поверхности в плазме любого состава поверхность кремния становится гидрофильной, что проявляется в виде широкой составной полосы вблизи 3500 см-1 . Как видно из рисунка при обработке в плазме исчезают первоначально присутствовавшие Si-H и C-H связи, однако на гидрофильной поверхности формируется пленка SiO2 (LO и TO фононы) с различными свойствами.
求助全文
通过发布文献求助,成功后即可免费获取论文全文。 去求助
来源期刊
自引率
0.00%
发文量
0
×
引用
GB/T 7714-2015
复制
MLA
复制
APA
复制
导出至
BibTeX EndNote RefMan NoteFirst NoteExpress
×
提示
您的信息不完整,为了账户安全,请先补充。
现在去补充
×
提示
您因"违规操作"
具体请查看互助需知
我知道了
×
提示
确定
请完成安全验证×
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
0
联系我们:info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:481959085
Book学术官方微信