紫外光电接收器(Fe)-n-GaAs0.6 P0.4纳米手柄

{"title":"紫外光电接收器(Fe)-n-GaAs0.6 P0.4纳米手柄","authors":"","doi":"10.34077/rcsp2019-147","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Широкозонное бинарное соединение оксид галлия Ga2O3 вызывает большой интерес в качестве\nнового материала для микро- и наноэлектроники и уже используется в ультрафиолетовой (УФ)\nнанофотоэлектронике [1,2].\nНастоящая работа посвящена исследованиям фоточувствительности (ФЧ) Au-Ga2O3(Fe)-nGaAs0.6P0.4 наноструктур в области энергии фотонов hν=1.5-6.1 eV с целью создания фотоприемников\nУФ излучения, а так же определения ширины запрещенной зоны оксида Ga2O3 (Egox), легированного\nжелезом (Fe), и выяснению его влияния на спектр фототока барьеров Шоттки. Для изготовления\nфотоприемников на основе n-GaAs0.6P0.4 использовалась технология, аналогичная описанной в [2].\nПосле химического травления смесью Br2(4%)+C2H5OH(96%) c последующей промывкой в этаноле,\nповерхность n-GaAs0.6P0.4 обрабатывалась этаноловым раствором бромида железа (FeBr2\n.\n6H2O).\nНаноструктуры Au-Ga2O3(Fe)-n-GaAs0.6P0.4 изготовлены методом химического осаждения.\nПрисутствие атомов железа (Fe) в оксидном слое Ga2O3(Fe) было установлено с помощью растрового\nмикроскопа и фотоэлектрическим методом.\nОсновные результаты проиллюстрированы на рис. а, б, в.\nВ УФ области спектра обнаружены новые закономерности. В интервале 3.2-4.2 eV имеется\nучасток практически постоянной ФЧ (SI ≈ 0,15-0,18 A/Вт). На интервале 4.2-5.1 eV с увеличением hν\nФЧ уменьшается и при hν=5,1 eV наблюдается минимум ФЧ. На интервале 5.1-6.1 eV опять\nпроисходит рост ФЧ с увеличением hν. При освещении hν>5 eV в GaAs0.6P0.4 МДП наноструктуре\nначинается процесс лавинного умножения носителей заряда и слой диэлектрика [Ga2O3(Fe)]\nучаствует в создании дополнительного фототока.\nЗависимость фототока If0 в интервале 5.1-6.1 eV оказалась экспоненциальной. Это позволяет по\nметодике, описанной в [1], определить Egox оксида Ga2O3(Fe), образованного на поверхности\nGaAs0.6P0.4 (рис.в). Таким образом, образование на поверхности n-GaAs0.6P0.4 нанооксидного слоя\nжелеза Ga2O3(Fe), создает в наноструктуре Au-Ga2O3(Fe)-n-GaAs0.6P0.4 специфические свойства,\nимеющие важное научно-практическое значение (рис. б).","PeriodicalId":118786,"journal":{"name":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","volume":"85 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-05-24","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Фотоприемник ультрафиолетового излучения на основе\\nAu-Ga2O3(Fe)-n-GaAs0.6 P0.4 наноструктур\",\"authors\":\"\",\"doi\":\"10.34077/rcsp2019-147\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Широкозонное бинарное соединение оксид галлия Ga2O3 вызывает большой интерес в качестве\\nнового материала для микро- и наноэлектроники и уже используется в ультрафиолетовой (УФ)\\nнанофотоэлектронике [1,2].\\nНастоящая работа посвящена исследованиям фоточувствительности (ФЧ) Au-Ga2O3(Fe)-nGaAs0.6P0.4 наноструктур в области энергии фотонов hν=1.5-6.1 eV с целью создания фотоприемников\\nУФ излучения, а так же определения ширины запрещенной зоны оксида Ga2O3 (Egox), легированного\\nжелезом (Fe), и выяснению его влияния на спектр фототока барьеров Шоттки. Для изготовления\\nфотоприемников на основе n-GaAs0.6P0.4 использовалась технология, аналогичная описанной в [2].\\nПосле химического травления смесью Br2(4%)+C2H5OH(96%) c последующей промывкой в этаноле,\\nповерхность n-GaAs0.6P0.4 обрабатывалась этаноловым раствором бромида железа (FeBr2\\n.\\n6H2O).\\nНаноструктуры Au-Ga2O3(Fe)-n-GaAs0.6P0.4 изготовлены методом химического осаждения.\\nПрисутствие атомов железа (Fe) в оксидном слое Ga2O3(Fe) было установлено с помощью растрового\\nмикроскопа и фотоэлектрическим методом.\\nОсновные результаты проиллюстрированы на рис. а, б, в.\\nВ УФ области спектра обнаружены новые закономерности. В интервале 3.2-4.2 eV имеется\\nучасток практически постоянной ФЧ (SI ≈ 0,15-0,18 A/Вт). На интервале 4.2-5.1 eV с увеличением hν\\nФЧ уменьшается и при hν=5,1 eV наблюдается минимум ФЧ. На интервале 5.1-6.1 eV опять\\nпроисходит рост ФЧ с увеличением hν. При освещении hν>5 eV в GaAs0.6P0.4 МДП наноструктуре\\nначинается процесс лавинного умножения носителей заряда и слой диэлектрика [Ga2O3(Fe)]\\nучаствует в создании дополнительного фототока.\\nЗависимость фототока If0 в интервале 5.1-6.1 eV оказалась экспоненциальной. Это позволяет по\\nметодике, описанной в [1], определить Egox оксида Ga2O3(Fe), образованного на поверхности\\nGaAs0.6P0.4 (рис.в). Таким образом, образование на поверхности n-GaAs0.6P0.4 нанооксидного слоя\\nжелеза Ga2O3(Fe), создает в наноструктуре Au-Ga2O3(Fe)-n-GaAs0.6P0.4 специфические свойства,\\nимеющие важное научно-практическое значение (рис. б).\",\"PeriodicalId\":118786,\"journal\":{\"name\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"volume\":\"85 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2019-05-24\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-147\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-147","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0

摘要

广域高卢二进制化合物Ga2O3对微型和纳米电子的高质量材料很感兴趣,已经在紫外线(uf)纳米电子学(1.2)中使用。真正的工作是研究h (Fe)- h (Fe)-nGaAs0.6P0.4 naostroctour,以创建光电接收器(1.5-6.1 eV),并确定氧化高2o3 (Egox)的宽度,以及它对肖特卡屏障光谱的影响。在n-GaAs0.6P0.4的基础上,使用了类似于[2]的技术。在摄入了Br2(4%)+C2H5OH(96%)和乙醇冲洗后,n-GaAs0.6P0.4的表面被铁溴化溶液(FeBr2.6H2O)处理。Au-Ga2O3(Fe)-n-GaAs0.6P0.4是化学沉积法制造的。铁(Fe)氧化层Ga2O3(Fe)中的存在是通过显微镜和光电技术确定的。主要的结果是水稻。在光谱区域发现了新的模式。在3.2-4.2之间,eV几乎是常数(SI e0.15 - 0.18 A/ vt)。在4.2-5.1之间,h的增幅减少了,而h的增幅减少了5.1。在5.1-6.1 eV区间,hs增加,hs增加。当h >5在GaAs0.6P0.4 nanostruktouree开始时,nanostrucktouree层(Ga2O3(Fe)参与创建额外的光电电流。If0光电在5.1-6.1 eV区间的关系呈指数级增长。这允许在[1]中描述的标记物识别Egox氧化物(Fe),形成于表面的Egox 6p0.4(大米)。因此,n-GaAs0.6P0.4纳米氧化物层Ga2O3(Fe)在Au-Ga2O3(Fe)-nb)。
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
Фотоприемник ультрафиолетового излучения на основе Au-Ga2O3(Fe)-n-GaAs0.6 P0.4 наноструктур
Широкозонное бинарное соединение оксид галлия Ga2O3 вызывает большой интерес в качестве нового материала для микро- и наноэлектроники и уже используется в ультрафиолетовой (УФ) нанофотоэлектронике [1,2]. Настоящая работа посвящена исследованиям фоточувствительности (ФЧ) Au-Ga2O3(Fe)-nGaAs0.6P0.4 наноструктур в области энергии фотонов hν=1.5-6.1 eV с целью создания фотоприемников УФ излучения, а так же определения ширины запрещенной зоны оксида Ga2O3 (Egox), легированного железом (Fe), и выяснению его влияния на спектр фототока барьеров Шоттки. Для изготовления фотоприемников на основе n-GaAs0.6P0.4 использовалась технология, аналогичная описанной в [2]. После химического травления смесью Br2(4%)+C2H5OH(96%) c последующей промывкой в этаноле, поверхность n-GaAs0.6P0.4 обрабатывалась этаноловым раствором бромида железа (FeBr2 . 6H2O). Наноструктуры Au-Ga2O3(Fe)-n-GaAs0.6P0.4 изготовлены методом химического осаждения. Присутствие атомов железа (Fe) в оксидном слое Ga2O3(Fe) было установлено с помощью растрового микроскопа и фотоэлектрическим методом. Основные результаты проиллюстрированы на рис. а, б, в. В УФ области спектра обнаружены новые закономерности. В интервале 3.2-4.2 eV имеется участок практически постоянной ФЧ (SI ≈ 0,15-0,18 A/Вт). На интервале 4.2-5.1 eV с увеличением hν ФЧ уменьшается и при hν=5,1 eV наблюдается минимум ФЧ. На интервале 5.1-6.1 eV опять происходит рост ФЧ с увеличением hν. При освещении hν>5 eV в GaAs0.6P0.4 МДП наноструктуре начинается процесс лавинного умножения носителей заряда и слой диэлектрика [Ga2O3(Fe)] участвует в создании дополнительного фототока. Зависимость фототока If0 в интервале 5.1-6.1 eV оказалась экспоненциальной. Это позволяет по методике, описанной в [1], определить Egox оксида Ga2O3(Fe), образованного на поверхности GaAs0.6P0.4 (рис.в). Таким образом, образование на поверхности n-GaAs0.6P0.4 нанооксидного слоя железа Ga2O3(Fe), создает в наноструктуре Au-Ga2O3(Fe)-n-GaAs0.6P0.4 специфические свойства, имеющие важное научно-практическое значение (рис. б).
求助全文
通过发布文献求助,成功后即可免费获取论文全文。 去求助
来源期刊
自引率
0.00%
发文量
0
×
引用
GB/T 7714-2015
复制
MLA
复制
APA
复制
导出至
BibTeX EndNote RefMan NoteFirst NoteExpress
×
提示
您的信息不完整,为了账户安全,请先补充。
现在去补充
×
提示
您因"违规操作"
具体请查看互助需知
我知道了
×
提示
确定
请完成安全验证×
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
0
联系我们:info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:481959085
Book学术官方微信