{"title":"无接触传感器干扰电路测量几何缺陷的理由","authors":"К. В. Епифанцев","doi":"10.22184/1992-4178.2023.225.4.138.146","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Создан прототип бесконтактного емкостного датчика для измерения дефектов формы для импортозамещения контактного щупа австрийского производства. Приведены результаты теоретического обоснования, исследований технических и методических решений по созданию оптических цифровых приборов, которые могут быть использованы для измерения дефектов формы и шероховатости.","PeriodicalId":303934,"journal":{"name":"ELECTRONICS: SCIENCE, TECHNOLOGY, BUSINESS","volume":"70 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2023-05-03","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"ОБОСНОВАНИЕ ПРИМЕНЕНИЯ ПОМЕХОПОДАВЛЯЮЩЕЙ СХЕМЫ БЕСКОНТАКТНОГО ДАТЧИКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ГЕОМЕТРИИ\",\"authors\":\"К. В. Епифанцев\",\"doi\":\"10.22184/1992-4178.2023.225.4.138.146\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Создан прототип бесконтактного емкостного датчика для измерения дефектов формы для импортозамещения контактного щупа австрийского производства. Приведены результаты теоретического обоснования, исследований технических и методических решений по созданию оптических цифровых приборов, которые могут быть использованы для измерения дефектов формы и шероховатости.\",\"PeriodicalId\":303934,\"journal\":{\"name\":\"ELECTRONICS: SCIENCE, TECHNOLOGY, BUSINESS\",\"volume\":\"70 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2023-05-03\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"ELECTRONICS: SCIENCE, TECHNOLOGY, BUSINESS\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.225.4.138.146\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"ELECTRONICS: SCIENCE, TECHNOLOGY, BUSINESS","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.225.4.138.146","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
ОБОСНОВАНИЕ ПРИМЕНЕНИЯ ПОМЕХОПОДАВЛЯЮЩЕЙ СХЕМЫ БЕСКОНТАКТНОГО ДАТЧИКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ГЕОМЕТРИИ
Создан прототип бесконтактного емкостного датчика для измерения дефектов формы для импортозамещения контактного щупа австрийского производства. Приведены результаты теоретического обоснования, исследований технических и методических решений по созданию оптических цифровых приборов, которые могут быть использованы для измерения дефектов формы и шероховатости.