{"title":"Kendroscope纳米定位系统的设计","authors":"С. Антонов","doi":"10.25587/svfu.2022.53.69.003","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Аннотация. Отображение нанообъектов по сей день остается одной из наиболее трудных и актуальных задач науки и техники. Характерным недостатком существующих методовмикроскопии для исследования нанообъектов является отсутствие объемности изображения. Для заполнения этого пробела Санкт-Петербургский государственный университет и Северо-Восточный федеральный университет совместно разрабатывают электронно-голографическую установку для изучения структуры тонких пленок, волокон и макромолекул, работающуюв условиях сверхвысокого вакуума. Чтобы получить полную картину исследуемого объекта, используется система грубой и тонкой подвижки. Для получения достоверных и точных данных необходимо повысить точность позиционирования острийного катода относительно исследуемого объекта. Для повышения точности в ходе научной исследовательской работы были созданычертежи новой тонкой подвижки, создаваемой на основе пьезокерамических трубок серии PT130. Точность грубой подвижки была повышена благодаря использованию абсолютного энкодера M6A2-38F10B-5C-2.5M. Создана функциональная схема для установки Кендроскоп, которая позволила создать программу управления для грубой и тонкой подвижки с обратной связью по оси Z.Программа позволяет управлять процессом в автоматическом и ручном режимах. Благодаряналичию обратной связи по оси Z появилась возможность защиты от протыкания острием исследуемого объекта при приближении и сканировании.","PeriodicalId":208899,"journal":{"name":"Vestnik of North-Eastern Federal University","volume":"190 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2022-03-31","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Designing the nano-positioning system for the Kendroscope\",\"authors\":\"С. Антонов\",\"doi\":\"10.25587/svfu.2022.53.69.003\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Аннотация. Отображение нанообъектов по сей день остается одной из наиболее трудных и актуальных задач науки и техники. Характерным недостатком существующих методовмикроскопии для исследования нанообъектов является отсутствие объемности изображения. Для заполнения этого пробела Санкт-Петербургский государственный университет и Северо-Восточный федеральный университет совместно разрабатывают электронно-голографическую установку для изучения структуры тонких пленок, волокон и макромолекул, работающуюв условиях сверхвысокого вакуума. Чтобы получить полную картину исследуемого объекта, используется система грубой и тонкой подвижки. Для получения достоверных и точных данных необходимо повысить точность позиционирования острийного катода относительно исследуемого объекта. Для повышения точности в ходе научной исследовательской работы были созданычертежи новой тонкой подвижки, создаваемой на основе пьезокерамических трубок серии PT130. Точность грубой подвижки была повышена благодаря использованию абсолютного энкодера M6A2-38F10B-5C-2.5M. Создана функциональная схема для установки Кендроскоп, которая позволила создать программу управления для грубой и тонкой подвижки с обратной связью по оси Z.Программа позволяет управлять процессом в автоматическом и ручном режимах. Благодаряналичию обратной связи по оси Z появилась возможность защиты от протыкания острием исследуемого объекта при приближении и сканировании.\",\"PeriodicalId\":208899,\"journal\":{\"name\":\"Vestnik of North-Eastern Federal University\",\"volume\":\"190 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2022-03-31\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Vestnik of North-Eastern Federal University\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.25587/svfu.2022.53.69.003\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Vestnik of North-Eastern Federal University","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.25587/svfu.2022.53.69.003","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
Designing the nano-positioning system for the Kendroscope
Аннотация. Отображение нанообъектов по сей день остается одной из наиболее трудных и актуальных задач науки и техники. Характерным недостатком существующих методовмикроскопии для исследования нанообъектов является отсутствие объемности изображения. Для заполнения этого пробела Санкт-Петербургский государственный университет и Северо-Восточный федеральный университет совместно разрабатывают электронно-голографическую установку для изучения структуры тонких пленок, волокон и макромолекул, работающуюв условиях сверхвысокого вакуума. Чтобы получить полную картину исследуемого объекта, используется система грубой и тонкой подвижки. Для получения достоверных и точных данных необходимо повысить точность позиционирования острийного катода относительно исследуемого объекта. Для повышения точности в ходе научной исследовательской работы были созданычертежи новой тонкой подвижки, создаваемой на основе пьезокерамических трубок серии PT130. Точность грубой подвижки была повышена благодаря использованию абсолютного энкодера M6A2-38F10B-5C-2.5M. Создана функциональная схема для установки Кендроскоп, которая позволила создать программу управления для грубой и тонкой подвижки с обратной связью по оси Z.Программа позволяет управлять процессом в автоматическом и ручном режимах. Благодаряналичию обратной связи по оси Z появилась возможность защиты от протыкания острием исследуемого объекта при приближении и сканировании.